- #1
E
Ewert
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Hi,
ich habe eine Samsung HD103UJ seit April letzten Jahres. Seit einiger Zeit meldet das System beim Start SMART event logged.
Ein gründlicher Testlauf mit ESTool sagt jedoch, dass die Platte völlig ok ist. smartctl unter Linux und der SMART selftest sagen jedoch, dass Fehler auftreten, aber kein SMART-Fehler vorliegt (siehe unten).
Ein chkdsk /F /R unter Windows zeigt mir einige kaputte Sektoren in der Zusammenfassung an, aber sagt, dass das Dateisystem ok ist. Das alleine würde mir keine Sorgen machen, aber in Verbindung mit dem SMART selftest ist das schon komisch.
Wie ist eure Meinung? Reicht das für nen RMA?
Gruß,
X
ich habe eine Samsung HD103UJ seit April letzten Jahres. Seit einiger Zeit meldet das System beim Start SMART event logged.
Ein gründlicher Testlauf mit ESTool sagt jedoch, dass die Platte völlig ok ist. smartctl unter Linux und der SMART selftest sagen jedoch, dass Fehler auftreten, aber kein SMART-Fehler vorliegt (siehe unten).
Ein chkdsk /F /R unter Windows zeigt mir einige kaputte Sektoren in der Zusammenfassung an, aber sagt, dass das Dateisystem ok ist. Das alleine würde mir keine Sorgen machen, aber in Verbindung mit dem SMART selftest ist das schon komisch.
Wie ist eure Meinung? Reicht das für nen RMA?
Gruß,
X
Code:
smartctl 5.39 2009-12-09 r2995 [i486-slackware-linux-gnu] (local build)
Copyright (C) 2002-9 by Bruce Allen, [url]http://smartmontools.sourceforge.net[/url]
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: SAMSUNG SpinPoint F1 DT series
Device Model: SAMSUNG HD103UJ
Firmware Version: 1AA01113
User Capacity: 1,000,203,804,160 bytes
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: 8
ATA Standard is: ATA-8-ACS revision 3b
Local Time is: Fri Feb 5 21:50:06 2010 UTC
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 114) The previous self-test completed having
the read element of the test failed.
Total time to complete Offline
data collection: (11425) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 191) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 20) minutes.
SCT capabilities: (0x003f) SCT Status supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x000f 100 098 051 Pre-fail Always - 31
3 Spin_Up_Time 0x0007 076 076 011 Pre-fail Always - 8170
4 Start_Stop_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 663
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x000f 253 253 051 Pre-fail Always - 0
8 Seek_Time_Performance 0x0025 100 100 015 Pre-fail Offline - 10102
9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1478
10 Spin_Retry_Count 0x0033 100 100 051 Pre-fail Always - 0
11 Calibration_Retry_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 656
13 Read_Soft_Error_Rate 0x000e 100 098 000 Old_age Always - 31
183 Runtime_Bad_Block 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 14
184 End-to-End_Error 0x0033 100 100 000 Pre-fail Always - 0
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 259
188 Command_Timeout 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0022 080 057 000 Old_age Always - 20 (Lifetime Min/Max 17/20)
194 Temperature_Celsius 0x0022 079 056 000 Old_age Always - 21 (Lifetime Min/Max 17/21)
195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 100 100 000 Old_age Always - 282041
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 25
197 Current_Pending_Sector 0x0012 100 099 000 Old_age Always - 1
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 100 000 Old_age Offline - 1
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 100 100 000 Old_age Always - 5
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x000a 099 099 000 Old_age Always - 11
201 Soft_Read_Error_Rate 0x000a 253 253 000 Old_age Always - 0
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed: read failure 20% 1471 543910264
# 2 Short offline Completed: read failure 20% 1471 543910264
# 3 Short offline Completed: read failure 20% 1470 543910264
# 4 Short offline Completed without error 00% 1439 -
# 5 Extended offline Completed: read failure 90% 1425 543906203
# 6 Short offline Completed: read failure 20% 1422 543910264
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.